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首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀

發布時間:2019-06-26

訪問次數:147

簡要描述:

首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因汙染造成短路等。廣泛應用於線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其製品的耐壓性,氣密性。

詳細介紹

首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀產品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因汙染造成短路等。廣泛應用於線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其製品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或係統的壽命試驗時間。

首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀
1.圓幅內襯,不鏽鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接衝擊試品。
2.實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出並吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純淨度。
3.臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
4.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。
5.箱內壓力愈大時,設備會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延老化箱壽命。
塑料片pct高壓加速老化箱使用條件:
溫度:5℃~+28℃(24小時內平均溫度≤28℃)
相對濕度:≤85%RH
氣壓:86kPa~106kPa
供電條件 三相四線+保護地線,電壓範圍:AC(380±38)V
頻率允許波動範圍:(50±0.5)Hz
保護地線接地電阻小於4Ω
主營產品:塑料片pct高壓加速老化箱-高壓加速老化試驗箱-鹽霧試驗箱-高低溫試驗箱-高溫恒溫試驗箱-紫外老化試驗箱-氙燈老化試驗箱-臭氧老化試驗箱-恒溫恒濕試驗箱-換氣式老化試驗箱-砂塵試驗箱-箱式淋雨試驗箱-冷熱衝擊試驗箱-振動試驗台-黴菌培養箱-高溫試驗箱-低溫試驗箱-恒溫試驗箱-跌落試驗台-三綜合試驗箱-二氧化硫腐蝕試驗
塑料片pct高壓加速老化箱產品用途:
塑料片pct高壓加速老化箱()又稱為高壓加速老化試驗箱,主要用於航空、航天、信息、電子等領域,確定儀器儀表、電工產品、材料、零部件、設備在低氣壓、高溫、低溫單項或同時作用下的環境適應性與可靠性試驗,並或同時對試件通電進行電氣性能參數的測量。
 

 


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